【GSS18预告】闪存可靠性与测试技术论坛不容错过！(2)

David Woolf将带来题为《NVMe合规性和互操作性计划》的主题演讲。David Woolf是新罕布什尔大学互操作性实验室（UNH-IOL）的数据中心技术高级工程师。身为世界一流的互操作性和一致性测试中心UNH-IOL团队的一员，他参与了很多行业审查测试程序的研发，并积极参与解决一致性与互操作问题。另外，David还作为SAS plugfest测试..委员，MIPI联盟测试工作组联合主席，负责协调NVMe集成商列表和plugfest的测试工作。此次，David Woolf先生将带来UNH-IOL对于NVMe合规性和互操作性计划的最新进展。

孙清涛将带来题为《NAND特性验证及SSD固件协同设计》的主题演讲。Memblaze首席架构师孙清涛在中科院，联想研究院一直从事存储领域方面的研究。在NAND特性的研究方面，组建了Memblaze自研的NAND特性验证团队，综合离线的NAND特性测试结果以及在线的NAND特性学习的方法，并集成到固件架构设计中，来提高SSD产品的性能以及可靠性。此次演讲中，您将听到孙清涛先生及其团队在NAND特性验证方面的最新进展，以及SSD固件协同设计的探索发现。

主题演讲为《可编程的闪存仿真系统》。从事闪存和固态硬盘领域的研究开发工作十年，孙丽华先生经历了闪存工艺从SLC/MLC到TLC/QLC，从2D到3D的快速演变过程，见证了固态硬盘近十年来的高速发展历程，并参与设计开发了多款消费级和企业级固态硬盘。依靠在闪存和固态硬盘领域积累的丰富理论和实战经验，孙丽华先生揭开可编程的闪存仿真系统背后的“奥秘”。

主题演讲为《RWSW测试新方法》。数据中心设计人员，IT经理和存储专业人员正在寻求一种标准化的方法，用于捕获，分析和测试“真实世界存储环境工作负载”，以便更有效地评估数据中心存储的性能以及数据中心使用的存储资格。您将了解到IO捕获的过程，以及如何可视化和分析IO捕获，如何从实际IO捕获中提取测试工作负载，如何使用这些真实世界的工作负载测试数据中心的存储状态。同时，演讲人还会重点分析“RWSW测试”的重放测试，多WSAT，单个流WSAT和需求强度响应时间直方图（DIRTH）测试。

精彩内容还不止于此，您要做的就是凭票入场，选择“闪存可靠性与测试技术论坛”。当然，除了本论坛外，第二天的论坛还包括闪存存储技术新趋势论坛（链接）、SSD设计与控制器技术论坛（链接）、全闪存系统与存储网络技术论坛（链接）以及新一代存储器技术与应用论坛（链接）以及新一代存储介质制造论坛。

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